Авторизация
На главную
EXPOCLUB.ru   
Всего в базе: 9261 мероприятий

EXPOCLUB.ru —
международный
выставочный портал

КаталогВыставки и конференции

IS&T/SPIE 2009 – международная конференции по метрологии тре...



IS&T/SPIE 2009 – международная конференции по метрологии трехмерных изображений

Данное мероприятие закончилось.

Посмотрите актуальные мероприятия этих отраслей:
Когда: 18.01.2009 - 22.01.2009
Где: США, Сан Хосе
Для посещения: выбрать отель купить авиабилет
Для участия: застройка стенда деловая поездка "под ключ" организация делового мероприятия

Подбор отеля

700 000 отелей в 205 странах, 70 систем онлайн бронирования, без наценок и комиссий!



Поиск авиабилетов

Более 720 авиакомпаний, 200 авиакасс, 5 систем брониромания, без наценок и комиссий!


Также на Aviasales можно заказать страховку и взять в прокат автомобиль.



IS&T/SPIE 2009 – международная конференции по метрологии трехмерных изображений

Международное общество по оптической технике SPIE проводит конференцию и выставку в области разработки и производства оптических изделий, где будут экспонироваться оптические приборы, лазеры, компоненты, системы и оборудование, детекторы и приборы изображения, нанотехнологий и т.д.
SPIE международная научно-техническая организация, деятельность которой посвящена расширению технического и научного использования оптических, электрооптических и оптоэлектронных технологий посредством публикаций, организации конференций, симпозиумов и коротких курсов. Штаб-квартира SPIE находится в США.
Принимаются тезисы по следующим темам:
Цифровое формирование изображений
Сенсоры и приборы
3D изображения
Мультимедийные носители
Обработка изображений
Визуализация и восприятие
Визуальные средства связи


Расширенное описание мероприятия, карта с отметкой места проведения, а также ссылка на официальный сайт мероприятия доступны только зарегистрированным пользователям.

Возврат к списку

АКТУАЛЬНЫЕ СОБЫТИЯ
ПОКАЗАТЬ ВСЕ


Вернуться назад